Дата события: четверг, 16 Февраля, 2017 - 11:00
Доклад(ы):
Экстраполяция данных рассеяния в область отрицательных энергий
Автор(ы) доклада: Л.Д.Блохинцев (НИИЯФ МГУ), А.С.Кадыров (Curtin University, Pert, Australia), А.М.Мухамеджанов (Texas A&M University, College Station, USA), Д.А.Савин (НИИЯФ МГУ)
Исследование структуры SiO2/Si, последовательно имплантированной ионами 64Zn+ и 16О+ и термообработанной в нейтрально-инертной среде
Автор(ы) доклада: .В. Привезенцев (ФТИАН РАН), В.С. Куликаускас, В.В. Затекин (НИИЯФ МГУ), В.И. Зиненко, Ю.Н. Агафонов, В.К. Егоров (ИПТМ РАН), Э.А. Штейнман, А.Н. Терещенко (ИФТТ РАН), К.Д.Щербачев (НИТУ МИCиC)
