В четверг, 01.04.2010 в 11:00 в ауд. 2-15 19 корпуса НИИЯФ МГУ - лекция профессора Гронингенского университета, академика Королевской академии наук Нидерландов
Jeff Th.M. De Hosson
"Advances in Microscopy:
in situ studies on crystalline and amorphous materials".
Проф. Де Хоссон расскажет о новом направлении исследования дефектообразования в кристаллах методом механического воздействия непосредственно в электронном микроскопе. Будут продемонстрированы весьма интересные наблюдения.